1、 何謂耐壓測(cè)試?

　　耐壓測(cè)試是常見(jiàn)的安規(guī)測(cè)試之一，常見(jiàn)的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試的主要目的測(cè)試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時(shí)，對(duì)測(cè)試點(diǎn)施以一高壓，測(cè)試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。

　　2 、在安規(guī)中絕緣有幾種類型?

　　絕緣類型分為四種:基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強(qiáng)絕緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)部可能因灰塵過(guò)多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹姡虼艘岔氁阅蛪簻y(cè)試判斷產(chǎn)品內(nèi)部電路設(shè)計(jì)是否有沿面距離或絕緣不足等問(wèn)題。

　　3 、在AC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要real current 的判斷?

　　AC輸出總電流(total current)可能因部份內(nèi)部容抗而造成與真實(shí)測(cè)試電流(real current)之間的差異。電流在輸出時(shí)，若受到較大容抗時(shí)，反應(yīng)電流(reactive)會(huì)較大，而使得真實(shí)測(cè)試電流相對(duì)變小。若無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量輸出電流與加以補(bǔ)償，會(huì)造成測(cè)試上的盲點(diǎn)。

　　4 、在DC耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩升時(shí)間?

　　DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖，才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL)。

　　5 、在做耐壓測(cè)試時(shí)，為何需要緩降時(shí)間?

　　耐壓測(cè)試會(huì)使DUT充電，因此在耐壓測(cè)試結(jié)束時(shí)須一段時(shí)間來(lái)進(jìn)行放電，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)將放電時(shí)間減至少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會(huì)明顯標(biāo)示危險(xiǎn)警告，以防止測(cè)試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。

　　6 、何謂flashover 電氣閃絡(luò)(ARC)?

　　安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中明顯指出不得有絕緣破壞(Breakdown)發(fā)生，而部份安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)更要求不得有電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC發(fā)生，但并無(wú)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ARC是屬於電氣放電的一種，當(dāng)ARC發(fā)生時(shí)已表示絕緣能力已不足，若多次的ARC發(fā)生，則會(huì)導(dǎo)致絕緣破壞。

　　7 、為何需要做電壓補(bǔ)償?

　　在耐壓測(cè)試中，測(cè)試電壓的標(biāo)準(zhǔn)是判斷良品的主要因素之一。許多耐壓測(cè)試設(shè)備以變壓器將低電壓轉(zhuǎn)換為高電壓后輸出，但儀器的內(nèi)部阻抗會(huì)造成分壓，尤其在一些品質(zhì)不良的耐壓測(cè)試設(shè)備中，實(shí)際輸出電壓無(wú)法達(dá)到安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。為避免失誤判定為良品而造成不必要的困擾，優(yōu)良的耐壓測(cè)試設(shè)備會(huì)以自動(dòng)增益補(bǔ)償(Auto Gain Compensation)修正與補(bǔ)償電壓至所須電壓值，并將電壓表設(shè)計(jì)於輸出端，以便正確量測(cè)輸出電壓是否不足。